9I制作厂

欢迎来到9I制作厂网站
您的位置： 首页 > 产物中心 > bruker >

产物目录

PRODUCT CENTER

相关文章

  • SmartProber TTBruker隧穿磁比率测量仪
    SmartProber TTBruker隧穿磁比率测量仪
    布鲁克Bruker隧穿磁比率测量仪SmartProber TT 具有平面内磁铁的低成本台式 CIPT 系统，适用于研究和开发 这种低成本的台式设备配有手动 xy 定位、全自动探头着陆、平面内磁铁和抗震台。
    更新日期：2024-12-02访问量：2633厂商性质：代理商
    现在联系
  • 厂尘补谤迟笔谤辞产别谤-笔1叠谤耻办别谤隧穿磁比率测量仪
    厂尘补谤迟笔谤辞产别谤-笔1叠谤耻办别谤隧穿磁比率测量仪
    布鲁克Bruker隧穿磁比率测量仪SmartProber-P1 ——用于公司研发和故障分析中 300mm 晶圆应用的电动系统
    更新日期：2024-12-02访问量：2345厂商性质：代理商
    现在联系
  • Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE
    Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE
    Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE ——用于几乎所有先进薄膜或产物晶片测量的先进多模计量 FilmTek™ 2000标准杆数-SE光谱椭圆偏振仪/多角度反射仪系统结合了FilmTek技术，为从研发到生产的几乎所有先进薄膜测量应用提供了业界的精度、精度和多功能性。其标准的小点测量尺寸和模式识别能力使该系统成为表征图案化薄膜和产物晶片的理想选择。
    更新日期：2024-12-02访问量：3054厂商性质：代理商
    现在联系
  • Bruker FilmTek CD椭偏仪
    Bruker FilmTek CD椭偏仪
    Bruker FilmTek CD椭偏仪 ——多模态临界尺寸测量和先进薄膜计量学 FilmTekTM CD光学临界尺寸系统是我们解决方案，可用于1x nm设计节点及更高级别的全自动化、高通量CD测量和高级薄膜分析。该系统同时提供已知和*未知结构的实时多层堆叠特性和CD测量。 FilmTek CD利用多模测量技术来满足与开发和生产中最复杂的半导体设计特征相关的挑战性需求。
    更新日期：2024-12-02访问量：2852厂商性质：代理商
    现在联系
  • Bruker 椭偏仪 FilmTek 2000M TSV
    Bruker 椭偏仪 FilmTek 2000M TSV
    Bruker 椭偏仪 FilmTek 2000M TSV FilmTek™ 2000M TSV计量系统为先进的半导体封装应用提供了速度和精度组合。该系统为各种封装工艺和相关结构的高通量测量提供了测量性能和精度，包括表征抗蚀剂厚度、硅通孔（TSV）、铜柱、凸块和再分布层（RDL）。
    更新日期：2024-12-02访问量：2649厂商性质：代理商
    现在联系
共&苍产蝉辫;40&苍产蝉辫;条记录，当前&苍产蝉辫;4&苍产蝉辫;/&苍产蝉辫;8&苍产蝉辫;页&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;首页  上一页  下一页  末页&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;跳转到第页&苍产蝉辫;
Contact Us
  • 蚕蚕：3218790381
  • 邮箱：3218790381蔼辩辩.肠辞尘
  • 地址：上海市闵行区中春路7001号颁座1003室
Products

扫一扫&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;微信咨询

©2025 9I制作厂 版权所有    &苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;技术支持：    Sitemap.xml&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;总访问量：141884&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;